温度变化测试有效期多久
发布时间:2024-11-22
温度变化测试有效期多久,辐照试验目的:考核微电路在高能粒子辐照环境下的工作能力。高能粒子进入微电路会使微观结构发生变化产生缺陷或产生附加电荷或电流。从而导致微电路参数退化、发生锁定、电路翻转或产生浪涌电流引起烧毁失效。辐照超过某一界限会使微电路产生永久性损伤。IK测试(外壳对外界机械碰撞的防护等级)IK代码IK code 代码表示外壳对外界有害机械碰撞的防护等级。标识 表明外壳对外界机械碰撞的防护等级应用IK代码为特征数字组合(00至10)。IK准适用于额定电压不超过72. 5 kV的电器设备外壳对外界机械碰撞的防护分级,仅适用于对外界机械碰撞防护分级有专门要求的外壳。检测标准:GB/T 20138-2006; IEC 62262: 2002EN 62262: 2002,冲击能量:5J,10J,20J;
热冲击试验目的:考核产品承受温度剧烈变化,即承受大温度变化速率的能力。试验可引发产品由机械结构缺陷劣化产生的失效.热冲击试验与温度循环试验的目的基本一致,但热冲击试验的条件比温度循环试验要严酷得多。
可靠性检测的目的:在研制阶段使产品达到预定的可靠性指标。为了使产品能达到预定的可靠性指标,在研制阶段需要对样品进行可靠性试验,以便找出产品在原材料、结构、工艺、环境适应性等方面所存在的问题,而加以改进,经过反复试验与改进,就能不断地提高产品的各项可靠性指标,达到预定的要求。
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