高温测试有效期多久，可靠性试验通常可遵循下列程序进行：(1)根据试验的目的和产品的情况，确定试验类型；(2)假定产品的寿命分布类型；(3)根据产品批量及成本情况选定试验方案；(4)根据技术及经济情况，确定产品的可靠性指标的上下限；(5)根据试验方案和给定的参数制定抽样方案以确定试品的数量和试验时间；(6)确定试验条件，包括环境条件、工作条件和负载条件以及试品的初始状态；(7)根据产品的性能，规定应测量的参数及相应的测量方法和测量周期；(8)制定故障分类及判断的准则；(9)规定需记录的项目、内容及相应格式；(10)进行数据分析和处理，判断试验结果，提出试验报告。

低气压试验目的：考核产品对低气压工作环境(如高空工作环境)的适应能力。当气压减小时空气或绝缘材料的绝缘强度会减弱；易产生电晕放电、介质损耗增加、电离；气压减小使散热条件变差，会使元器件温度上升。这些因素都会使被试样品在低气压条件下丧失规定的功能，有时会产生永久性损伤。



辐照试验目的：考核微电路在高能粒子辐照环境下的工作能力。高能粒子进入微电路会使微观结构发生变化产生缺陷或产生附加电荷或电流。从而导致微电路参数退化、发生锁定、电路翻转或产生浪涌电流引起烧毁失效。辐照超过某一界限会使微电路产生永久性损伤。

寿命试验目的:考核产品在规定的条件下，在全过程工作时间内的质量和可靠性。为了使试验结果有较好代表性，参试的样品要有足够的数量。试验条件:微电路的寿命试验分稳态寿命试验、间歇寿命试验和模拟寿命试验。

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