MTBF试验CNAS授权实验室，可靠性试验常用检测标准：电子测量仪器通用规范 GB/T 6587-2012；计算机通用规范 第 1 部分：台式微型计算机 GB/T 9813.1-2016；计算机通用规范 第 2 部分：便携式微型计算机 GB/T 9813.2-2016；计算机通用规范 第 3 部分：服务器 GB/T 9813.3-2017；计算机通用规范 第 4 部分：工业应用微型计算机 GB/T 9813.4-2017；

寿命试验目的:考核产品在规定的条件下，在全过程工作时间内的质量和可靠性。为了使试验结果有较好代表性，参试的样品要有足够的数量。试验条件:微电路的寿命试验分稳态寿命试验、间歇寿命试验和模拟寿命试验。



温度循环试验目的：考核产品承受一定温度变化速率的能力及对极端高温和极端低温环境的承受能力．是针对产品热机械性能设置的。当构成产品各部件的材料热匹配较差，或部件内应力较大时，温度循环试验可引发产品由机械结构缺陷劣化产生的失效。如漏气、内引线断裂、芯片裂纹等。

辐照试验试验条件：微电路的辐照试验主要有中子辐照和γ射线辐照两大类。又分总剂量辐照试验和剂量率辐照试验。剂量率辐照试验都是以脉冲的形式对披试微电路进行辐照的。在试验中要依据不同的微电路和不同的试验目的严格控制辐照的剂量串和总剂量。否则会由于辐照超过界限而损坏样品或得不到要寻求的闽值。辐照试验要有防止损伤的安全措施。

MTBF试验CNAS授权实验室，新时代新征程新伟业，帝恩检测将坚持不断提升综合服务能力，增强专业化保障能力，秉承“科学、公正、诚信、有效”的质量方针，一如既往倾力助推企业高质量发展，为“质量强国”建设贡献力量，为人民品质生活保驾护航！为企业提供一站式检测认证服务，解决企业各类检测认证难题！

交变湿热试验CNAS授权实验室