光老化试验CMA授权实验室

光老化试验CMA授权实验室，耐湿试验目的：以施加加速应力的方法评定微电路在潮湿和炎热条件下抗衰变的能力，是针对典型的热带气候环境设计的。微电路在潮湿和炎热条件下衰变的主要机理是由化学过程产生的腐蚀和由水汽的浸入、凝露、结冰引起微裂缝增大的物理过程。试验也考核在潮湿和炎热条件下构成微电路材料发生或加剧电解的可能性，电解会使绝缘材料电阻宰发生变化，使抗介质击穿的能力变弱。

可靠性试验常用检测标准：设备可靠性试验 可靠性测定试验的点估计和区间估计 方法 (指数分布) GB/T 5080.4-1985；设备可靠性试验 第 4 部分：指数分布的统计程序—点 估计、置信区间、预测区间和公差区间 IEC 60605- 4:1978；设备可靠性试验成功率的验证试验方案 GB/T 5080.5- 1985；设备可靠性试验 第 5 部分：成功率的验证试验方案 IEC 60605-5:1982；



IK测试（外壳对外界机械碰撞的防护等级）IK代码IK code 代码表示外壳对外界有害机械碰撞的防护等级。标识 表明外壳对外界机械碰撞的防护等级应用IK代码为特征数字组合(00至10)。IK准适用于额定电压不超过72. 5 kV的电器设备外壳对外界机械碰撞的防护分级，仅适用于对外界机械碰撞防护分级有专门要求的外壳。检测标准：GB/T 20138-2006; IEC 62262: 2002EN 62262: 2002，冲击能量：5J，10J，20J；

辐照试验目的：考核微电路在高能粒子辐照环境下的工作能力。高能粒子进入微电路会使微观结构发生变化产生缺陷或产生附加电荷或电流。从而导致微电路参数退化、发生锁定、电路翻转或产生浪涌电流引起烧毁失效。辐照超过某一界限会使微电路产生性损伤。

光老化试验CMA授权实验室，新时代新征程新伟业，帝恩检测将坚持不断提升综合服务能力，增强专业化保障能力，秉承“科学、公正、诚信、有效”的质量方针，一如既往倾力助推企业高质量发展，为“质量强国”建设贡献力量，为人民品质生活保驾护航！为企业提供一站式检测认证服务，解决企业各类检测认证难题！

企业如何办理欧盟SVHC检测报告